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手持式电阻率测试仪

型号:XNC-M3

访问量:93

厂商性质:生产厂家

更新时间:2021-12-11

简要描述:
XNC-M3手持式电阻率测试仪

运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国标并参考美国 A.S.T.M 标准
品牌自营品牌产地类别国产
应用领域环保,生物产业,石油,地矿,电子 电 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ

XNC-M3手持式电阻率测试仪

      运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国标并参考美国 A.S.T.M 标准。

      成套组成:由XNC-M3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。

仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!

      探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

      《四探针探头特点与选型参考》点击进入

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
XNC-M3
手持式电阻率测试仪

技术参数

1. 测量范围、分辨率

        :   0.010Ω  50.00kΩ,     分辨率0.001  10 Ω

    电 阻 率:   0.010Ω~ 20.00kΩ-cm,分辨率0.001  10 Ω-cm

    方块电阻:   0.050Ω~ 100.0kΩ/   分辨率0.001  10 Ω/

2. 可测材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:

        径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15130mm

    SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm

    ()度:测试台直接测试方式 H100mm.

    测量方位: 轴向、径向均可.

3. 量程划分及误差等级

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.0102.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00050.00k

电阻率/方阻

0.010/0.0502.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00020.00k

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 适配器工作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

   重:≤0.3kg

 

 


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