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数字式四探针测试仪

型号:XNC-2253

访问量:59

厂商性质:生产厂家

更新时间:2021-12-11

简要描述:
XNC-2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
品牌自营品牌产地类别国产
应用领域环保,生物产业,农业,地矿,电子电 阻1×10-4~2×105 Ω

XNC-2253数字式四探针测试仪


      XNC-2253数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

    仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。

    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印!

    探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

    测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-ASZT-BSZT-CSZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。

      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入

    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、基本技术参数

3.1  测量范围

       阻:1×10-42×105 Ω   ,分辨率:1×10-51×102 Ω

    电阻率:1×10-42×105 Ω-cm,分辨率:1×10-51×102 Ω-cm

      阻:5×10-42×105 Ω/□,分辨率:5×10-51×102 Ω/

3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

         径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15130mm,手持方式不限

    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.

    ()度:测试台直接测试方式 H100mm,    手持方式不限.

    测量方位: 轴向、径向均可

3.3.  4-1/2 位数字电压表:

    (1)量程: 20.00mV2000mV

   (2)误差:±0.1%读数±2

3.4 数控恒流源

    (1)量程:0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA1A

   (2)误差:±0.1%读数±2

3.5 四探针探头(选配其一或加配全部)

    (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 02kg 可调

   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 00.6kg 可调

3.6. 电源

    输入: AC 220V±10% ,50Hz          耗:<20W

3.7.外形尺寸:

         220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高)

      重:≤2.5kg

 


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